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Chen, Cheng-Chen
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1
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
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2
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
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Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
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hal-01361711. , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
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Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
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Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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hal-01361711. , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
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Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
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Chen, Cheng
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Buttay, Cyril
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11
Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:
Chen, Cheng
;
Michel, Laurent
;
Lachaud, Frederic
.
hal-02052001. , 2015
Link:
https://hal.science/hal-..
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12
Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:
Chen, Cheng
;
Michel, Laurent
;
Lachaud, Frederic
.
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https://hal.archives-ouv..
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13
Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
..
hal-01065220. , 2014
Link:
https://hal.science/hal-..
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Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
..
hal-01065220. , 2014
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https://hal.archives-ouv..
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Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
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hal-01065220. , 2014
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