Ich stimme zu, dass diese Seite Cookies verwende. Weitere Informationen finden Sie unter unseren
Datenschutzerklärungen
.
X
Login
Merkliste (
0
)
Startseite
Über uns
Startseite Über uns
Neues aus der SuUB
Geschichte der SuUB
Bibliotheksprofil
Presseinformationen
Freundeskreis
Die Bibliothek in Zahlen
Ausstellungen
Projekte
Ausbildung, Praktika und Stellenangebote
Filme zur Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Service & Beratung
Startseite Service & Beratung
Ausleihe & Fernleihe
Rückgabe & Verlängerung
Schulungen & Führungen
Mein Bibliothekskonto
Bibliotheksausweis
Neu in der Bibliothek?
Informationsmaterialien, Formulare und Pläne zum Download
Öffnungszeiten
Lernort Bibliothek
PC, WLAN, Kopieren, Scannen, Drucken
Kataloge & Sammlungen
Startseite Kataloge & Sammlungen
Historische Sammlungen
Digitale Sammlungen
Fachinformationen
Standorte
Startseite Standorte
Zentrale
Juridicum
Bereichsbibliothek Wirtschaftswissenschaft
Bereichsbibliothek Physik / Elektrotechnik
Teilbibliothek Technik und Sozialwesen
Teilbibliothek Wirtschaft und Nautik
Teilbibliothek Musik
Teilbibliothek Kunst
Teilbibliothek Bremerhaven
Kontakt
Startseite Kontakt
Liste der Ansprechpartner
Open Access & Publizieren
Startseite Open Access & Publizieren
Literaturverwaltung
Literatur Publizieren
Open Access in Bremen
Toggle navigation
Chai, Chang-Chun
2309
Ergebnisse:
Artikel (Online) X
Sprachen
englisch (2062)
deutsch (1)
mehr...
weniger...
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Novel electromechanical coupling theory of GaN HEMT structu..:
Wang, Lei
;
Chai, Chang-Chun
;
Zhao, Tian-Long
..
Europhysics Letters. 141 (2023) 4 - p. 40002 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1209/..
?
2
Influence of gate voltage dependent piezoelectric polarizat..:
Wang, Lei
;
Chai, Chang-Chun
;
Li, Fu-Xing
..
Microelectronics Reliability. 136 (2022) - p. 114665 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
C band microwave damage characteristics of pseudomorphic hi..:
Li, Qi-Wei
;
Sun, Jing
;
Li, Fu-Xing
...
Chinese Physics B. 30 (2021) 9 - p. 098502 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
4
Mechanism of AlGaAs/InGaAs pHEMT Nonlinear Response Under H..:
Liu, Yu-Qian
;
Chai, Chang-Chun
;
Wu, Han
...
IEEE Journal of the Electron Devices Society. 8 (2020) - p. 731-737 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
5
Damage effects and mechanism of the silicon NPN monolithic ..:
Li, Hui
;
Chai, Chang-Chun
;
Liu, Yu-Qian
..
Chinese Physics B. 27 (2018) 8 - p. 088502 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
6
Physics-based analysis and simulation model of electromagne..:
Liu, Yu-Qian
;
Chai, Chang-Chun
;
Zhang, Yu-Hang
...
Chinese Physics B. 27 (2018) 6 - p. 068505 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
7
Modeling and understanding of the thermal failure induced b..:
Zhang, Yu-Hang
;
Chai, Chang-Chun
;
Liu, Yang
...
Chinese Physics B. 26 (2017) 5 - p. 058502 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
8
Physical Properties of C-Si Alloys inC2/mStructure:
Wang, Qian-Kun
;
Chai, Chang-Chun
;
Fan, Qing-Yang
.
Communications in Theoretical Physics. 68 (2017) 2 - p. 259 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
9
Investigation on latch-up susceptibility induced by high-po..:
Zhang, Yu-Hang
;
Chai, Chang-Chun
;
Yu, Xin-Hai
...
Chinese Physics B. 26 (2017) 2 - p. 028501 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
10
Analysis of the damage threshold of the GaAs pseudomorphic ..:
Xi, Xiao-Wen
;
Chai, Chang-Chun
;
Liu, Yang
...
Chinese Physics B. 25 (2016) 8 - p. 088504 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
11
Damage effect and mechanism of the GaAs high electron mobil..:
Liu, Yang
;
Chai, Chang-Chun
;
Yang, Yin-Tang
..
Chinese Physics B. 25 (2016) 4 - p. 048504 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
12
Damage effect and mechanism of the GaAs pseudomorphic high ..:
Xi, Xiao-Wen
;
Chai, Chang-Chun
;
Zhao, Gang
...
Chinese Physics B. 25 (2016) 4 - p. 048503 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
13
Simulation and experimental study of high power microwave d..:
Yu, Xin-Hai
;
Chai, Chang-Chun
;
Liu, Yang
..
Chinese Physics B. 24 (2015) 4 - p. 048502 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
14
Hardening measures for bipolar transistors against microwav..:
Chai, Chang-Chun
;
Ma, Zhen-Yang
;
Ren, Xing-Rong
...
Chinese Physics B. 22 (2013) 6 - p. 068502 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
15
The pulsed microwave damage trend of a bipolar transistor a..:
Ma, Zhen-Yang
;
Chai, Chang-Chun
;
Ren, Xing-Rong
...
Chinese Physics B. 22 (2013) 2 - p. 028502 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1088/..
1-15