Maurer, Annika E
5  Ergebnisse:
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Dual-Wavelength Interferometer for Surface Profile Measurem..:

, In: Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering,
Manhart, S. ; Maurer, R. ; Tiziani, H. J.... - p. 217-224 , 1990
 
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Einsatz eines Thermografiekamerasystems in der Hochdurchsat..:

, In: Informatik in der Land-, Forst- und Ernährungswirtschaft / M. Gandorfer, A. Meyer-Aurich, H. Bernhardt, F.X. Maidl, G. Fröhlich, H. Floto (Hrsg.)
 
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