E-LIB Suche - Ergebnisse für: Ullmann, Timothy M.

1

"Ich bin in der Lage als Kosmetikverkäuferin zu arbeiten, a..:

, In: Intersektionale Perspektiven auf Flucht und Anerkennung,

Ullmann, Johanna M. - p. 165-194 , 2023

Link: https://doi.org/10.5771/..

2

Sicherheitsschnittstellen und formale Software-Entwicklung:

, In: Sicherheitsschnittstellen — Konzepte, Anwendungen und Einsatzbeispiele,

Schröder, K.-W. ; Ullmann, M. ; Koob, F. - p. 21-30 , 1994

Link: https://doi.org/10.1007/..

3

Übersicht und Gegenüberstellung der aktuellen IT-Sicherheit..:

, In: Sicherheit in netzgestützten Informationssystemen,

Keus, Klaus ; Kurth, W. ; Loevenich, D.. - p. 171-200 , 1993

Link: https://doi.org/10.1007/..

4

VSE Verification Support Environment:

, In: Verläßliche Informationssysteme,

Ullmann, M. ; Hauff, H. ; Loevenich, D.... - p. 175-190 , 1993

Link: https://doi.org/10.1007/..

5

List of Contributors:

, In: Supramolecular Photosensitive and Electroactive Materials,

ARNOLD, DENNIS P. ; BARENTSEN, HELMA M. ; BIJWE, J.... - p. xxi-xxiii , 2001

Link: https://doi.org/10.1016/..

6

Density-oriented diagnostic data compression strategy for c..:

, In: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS),

Insinga, G. ; Battilana, M. ; Coppetta, M.... - p. 1-6 , 2023

Link: https://doi.org/10.1109/..

7

Optimized diagnostic strategy for embedded memories of Auto..:

, In: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS),

Bernardi, P. ; Insinga, G. ; Paganini, G.... - p. 1-6 , 2022

Link: https://doi.org/10.1109/..

8

Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing:

, In: 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS),

Bernardi, P. ; Cantoro, R. ; Coyette, A.... - p. 1-10 , 2022

Link: https://doi.org/10.1109/..

9

High-Resolution Momentum Imaging—From Stern's Molecular Bea..:

, In: Molecular Beams in Physics and Chemistry,

Jahnke, T. ; Mergel, V. ; Jagutzki, O.... - p. 375-441 , 2021

Link: https://doi.org/10.1007/..

10

Industrial best practice: cases of study by automotive chip..:

, In: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT),

Abbati, L. Degli ; Ullmann, R. ; Paganini, G.... - p. 1-6 , 2021

Link: https://doi.org/10.1109/..

11

3D Printed Helix Antenna for 77GHz:

, In: 2020 14th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP),

Lomakin, K. ; Sippel, M. ; Ullmann, I... - p. 1-4 , 2020

Link: https://doi.org/10.23919..

12

Contributors:

, In: DHM and Posturography,

Abdel-Malek, Karim ; Al-Dirini, Rami ; Alemany, Sandra... - p. xxi-xxv , 2019

Link: https://doi.org/10.1016/..

13

Multi-frequency analysis of high resolution quad-pol Radars..:

, In: 2012 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium,

Banks, Sarah N. ; Ullmann, Tobias ; Duffe, Jason... - p. 3548-3551 , 2012

Link: https://doi.org/10.1109/..

14

MEMS Nanoreactor for Atomic-Resolution Microscopy of Nanoma..:

, In: 2009 IEEE 22nd International Conference on Micro Electro Mechanical Systems,

Creemer, J.F. ; Helveg, S. ; Hoveling, G.H.... - p. None , 2009

Link: https://doi.org/10.1109/..

15

Bakterielle Infektionen:

, In: Die Infektiologie,

Allewelt, M. ; Autenrieth, LB. ; Bär, W.... - p. 913-1130 , 2004

Link: https://doi.org/10.1007/..