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Barreto, Alfonso
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Comparative analysis of stained normalization in H&E histop..:

, In: 2023 IEEE International Autumn Meeting on Power, Electronics and Computing (ROPEC),
Reyes, Hector Eduardo Zepeda ; Barreto, Hayde Peregrina ; Ramos, Jose Alfonso Cruz. - p. 1-6 , 2023
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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Design codes before 2000 and after 2015 applied to a struct..:

, In: 2022 Congreso Internacional de Innovación y Tendencias en Ingeniería (CONIITI),
Nestor, Barreto Jamanca ; Alfonso, Moreno Santos ; Guillermo, Huaco Cardenas - p. 1-6 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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