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Zheleva, Tsvetanka
22
Ergebnisse:
Artikel (Online) X
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Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Analytical electron microscopy of (2¯01) β-Ga2O3/SiO2 and (..:
Klingshirn, Christopher J.
;
Jayawardena, Asanka
;
Dhar, Sarit
...
Journal of Applied Physics. 129 (2021) 19 - p. , 2021
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
2
Electron beam-induced crystallization of Al2O3 gate layer o..:
Klingshirn, Christopher J.
;
Jayawardena, Asanka
;
Dhar, Sarit
...
Micron. 140 (2021) - p. 102954 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Characterization of the Oxide-Semiconductor Interface in 4H..:
Taillon, Joshua
;
Gaskell, Karen
;
Liu, Gang
...
Microscopy and Microanalysis. 21 (2015) S3 - p. 1537-1538 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
4
Role of stress voltage on structural degradation of GaN hig..:
Joh, Jungwoo
;
Alamo, Jesús A. del
;
Langworthy, Kurt
..
Microelectronics Reliability. 51 (2011) 2 - p. 201-206 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Transition layers at the SiO2∕SiC interface:
Zheleva, Tsvetanka
;
Lelis, Aivars
;
Duscher, Gerd
...
Applied Physics Letters. 93 (2008) 2 - p. , 2008
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
6
Analytical and Structural Investigations of the Metal-Enhan..:
Lee, Unchul
;
Zheleva, Tsvetanka
;
Lelis, Aivars
...
ECS Transactions. 13 (2008) 3 - p. 99-109 , 2008
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
7
Pressure response of the ultraviolet photoluminescence of Z..:
Huso, Jesse
;
Morrison, John L.
;
Hoeck, Heather
...
Applied Physics Letters. 89 (2006) 17 - p. , 2006
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
8
The formation of crystalline defects and crystal growth mec..:
Kawaguchi, Yasutoshi
;
Shimizu, Masaya
;
Yamaguchi, Masahito
...
Journal of Crystal Growth. 189-190 (1998) - p. 24-28 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
Sublimation growth and characterization of bulk aluminum ni..:
Balkaş, Cengiz M.
;
Sitar, Zlatko
;
Zheleva, Tsvetanka
...
Journal of Crystal Growth. 179 (1997) 3-4 - p. 363-370 , 1997
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Epitaxial growth in large-lattice-mismatch systems:
Zheleva, Tsvetanka
;
Jagannadham, K.
;
Narayan, J.
Journal of Applied Physics. 75 (1994) 2 - p. 860-871 , 1994
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
11
Analysis of the electronic and chemical structure in boron ..:
Taillon, Joshua A.
;
Klingshirn, Christopher J.
;
Jiao, Chunkun
...
Applied Physics Letters. 113 (2018) 19 - p. , 2018
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
12
Silver nanoplates with ground or metastable structures obta..:
Zhelev, Doncho V.
;
Zheleva, Tsvetanka S.
Journal of Applied Physics. 115 (2014) 4 - p. , 2014
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
13
Systematic structural and chemical characterization of the ..:
Taillon, Joshua A.
;
Hyuk Yang, Joon
;
Ahyi, Claude A.
...
Journal of Applied Physics. 113 (2013) 4 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
14
Deposition factors and band gap of zinc-blende AlN:
Thompson, Margarita P.
;
Auner, Gregory W.
;
Zheleva, Tsvetanka S.
...
Journal of Applied Physics. 89 (2001) 6 - p. 3331-3336 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
15
Lateral epitaxy and dislocation density reduction in select..:
Zheleva, Tsvetanka S.
;
Nam, Ok-Hyun
;
Ashmawi, Waeil M.
..
Journal of Crystal Growth. 222 (2001) 4 - p. 706-718 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15