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Jiruse, Jaroslav
21
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Buchkapitel (Online) (1)
OpenAccess-Volltexte (4)
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?
1
A New Fully Integrated Retractable 4D STEM Detector for Sca..:
Motúz, Rastislav
;
Jiruše, Jaroslav
;
Stejskal, Pavel
..
Microscopy and Microanalysis. 30 (2024) Supplement_1 - p. , 2024
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
2
Correlative Microscopy of Nanophotonic Materials:
Horák, Michal
;
Liška, Petr
;
Kepič, Peter
...
Microscopy and Microanalysis. 30 (2024) Supplement_1 - p. , 2024
Link:
https://doi.org/10.1093/..
?
3
A New Generation Plasma FIB Column with Higher Probe Curren..:
Hrnčíř, Tomáš
;
Nešpor, Dušan
;
Radi, Zsolt
...
Microscopy and Microanalysis. 26 (2020) S2 - p. 412-413 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
4
An Optimized In-column Detection System for the Ultra-high ..:
Jiruše, Jaroslav
;
Sytař, Petr
;
Páral, Jan
.
Microscopy and Microanalysis. 26 (2020) S2 - p. 1806-1807 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
5
TESCAN Approaches to Biological Field Emission Scanning Ele..:
, In:
Biological Field Emission Scanning Electron Microscopy
,
Jiruše, Jaroslav
;
Košťál, Vratislav
;
Lencová, Bohumila
- p. 79-101 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1002/..
?
6
Detection Systems of Ultra-High-Resolution SEMs:
Jiruse, Jaroslav
;
Havelka, Miloslav
;
Polster, Jan
...
Microscopy and Microanalysis. 24 (2018) S1 - p. 606-607 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
7
S9000X - Next Generation of Ultra-High Resolution SEM for E..:
Havelka, Miloslav
;
Jiruse, Jaroslav
;
Hrncif, Tomas
...
Microscopy and Microanalysis. 24 (2018) S1 - p. 1116-1117 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
8
A New SEM Column Combining Ultra-High Resolution and Flexib..:
Sytaf, Petr
;
Jiruse, Jaroslav
;
Zavodny, Adam
Microscopy and Microanalysis. 23 (2017) S1 - p. 38-39 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
9
A Detection System with Controlled Surface Sensitivity for ..:
Sytaf, Petr
;
Jiruse, Jaroslav
;
Paral, Jan
Microscopy and Microanalysis. 23 (2017) S1 - p. 24-25 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
10
Design of an Ultra-High Resolution SEM for Enhanced Analysi:
Jiruse, Jaroslav
;
Havelka, Miloslav
;
Polster, Jan
Microscopy and Microanalysis. 22 (2016) S3 - p. 578-579 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
11
On the Calculation of SEM and FIB Beam Profiles:
Kološová, Jolana
;
Hrnčíř, Tomáš
;
Jiruše, Jaroslav
..
Microscopy and Microanalysis. 21 (2015) S4 - p. 206-211 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
12
Novel Cathodoluminescence Detector with Extremely Large Fie..:
Kološová, Jolana
;
Jiruše, Jaroslav
Microscopy and Microanalysis. 20 (2014) S3 - p. 912-913 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
13
New High-Resolution Low-Voltage and High Performance Analyt..:
Jiruše, Jaroslav
;
Havelka, Miloslav
;
Haničinec, Martin
..
Microscopy and Microanalysis. 20 (2014) S3 - p. 1104-1105 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
14
Insulator Analysis Using Combined FIB-SEM instrument with T..:
Sedláček, Libor
;
Kološová, Jolana
;
Jiruše, Jaroslav
.
Microscopy and Microanalysis. 20 (2014) S3 - p. 306-307 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
15
Novel field emission SEM column with beam deceleration tech..:
Jiruše, Jaroslav
;
Havelka, Miloslav
;
Lopour, Filip
Ultramicroscopy. 146 (2014) - p. 27-32 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15