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1
Unveiling the atomic position of C in Mn5Ge3Cx thin films:
Michez, L.-A.
;
Petit, M.
;
Heresanu, V.
...
Physical Review Materials. 6 (2022) 7 - p. , 2022
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
2
Atomically resolved chemical ordering at the nm-thick TiO p..:
Impagnatiello, A.
;
Hernandez-Maldonado, D.
;
Bertali, G.
...
Scripta Materialia. 126 (2017) - p. 50-54 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Ion-beam modification of 2-D materials - single implant ato..:
Bangert, U.
;
Stewart, A.
;
O'Connell, E.
...
Ultramicroscopy. 176 (2017) - p. 31-36 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Interfacial Origin of the Magnetisation Suppression of Thin..:
Mitra, A.
;
Cespedes, O.
;
Ramasse, Q.
...
Scientific Reports. 7 (2017) 1 - p. , 2017
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
5
Atomic-level structural and chemical analysis of Cr-doped B..:
Ghasemi, A.
;
Kepaptsoglou, D.
;
Collins-McIntyre, L. J.
...
Scientific Reports. 6 (2016) 1 - p. , 2016
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
6
Experimental and density functional study of Mn doped Bi2Te..:
Ghasemi, A.
;
Kepaptsoglou, D.
;
Figueroa, A. I.
...
APL Materials. 4 (2016) 12 - p. 126103 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
7
Nonstoichiometric Twin Defects in Fe 3 O 4 (111) Thin Films..:
Kepaptsoglou, D.
;
Gilks, D.
;
Mckeena, K.
...
Microscopy and Microanalysis. 22 (2016) S3 - p. 1698-1699 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
8
HAADF-STEM analysis of the composition distribution in InAl..:
Baladés, N.
;
Herrera, M.
;
Sales, D. L.
...
Microscopy and Microanalysis. 22 (2016) S4 - p. 30-31 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
9
Ion Implantation of Graphene—Toward IC Compatible Technolog..:
Bangert, U.
;
Pierce, W.
;
Kepaptsoglou, D. M.
...
Nano Letters. 13 (2013) 10 - p. 4902-4907 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1021/..
?
10
Quantum Confinement in Germanium Quantum Dots Observed by E..:
Nguyen, P.D.
;
Kepaptsoglou, D.M.
;
Erni, R.
..
Microscopy and Microanalysis. 19 (2013) S2 - p. 1486-1487 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
11
Evidence for a Thickness-Dependent Crossover from Charge- t..:
Spurgeon, S.R.
;
Sloppy, J.D.
;
Winkler, C.R.
...
Microscopy and Microanalysis. 19 (2013) S2 - p. 1964-1965 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
12
High-Precision Chemical Analysis and Structural Determinati..:
Kepaptsoglou, D.M.
;
Azough, F.
;
Ramasse, Q.
...
Microscopy and Microanalysis. 19 (2013) S2 - p. 1918-1919 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
13
Dielectric properties of pulsed-laser deposited indium tin ..:
Giusti, G.
;
Bowen, J.
;
Ramasse, Q.
...
Thin Solid Films. 524 (2012) - p. 249-256 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
Examining the structure and bonding in complex oxides using..:
Klie, R. F.
;
Qiao, Q.
;
Paulauskas, T.
...
Physical Review B. 85 (2012) 5 - p. , 2012
Link:
https://doi.org/10.1103/..
?
15
SDD-EDS: Element Analysis of Nanostructures in TEM:
Falke, M.
;
Kaeppel, A.
;
Scheller, S.
...
Microscopy and Microanalysis. 18 (2012) S2 - p. 1058-1059 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1017/..
1-15