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Chen, Cheng
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
Link: https://hal.science/hal-..
 
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
Link: https://hal.archives-ouv..
 
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
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Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:

Aviño Salvado, Oriol ; Chen, Cheng ; Buttay, Cyril...
hal-01361711.  , 2016
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11

Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:

Chen, Cheng ; Michel, Laurent ; Lachaud, Frederic.
hal-02052001.  , 2015
Link: https://hal.science/hal-..
 
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Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:

Chen, Cheng ; Michel, Laurent ; Lachaud, Frederic.
hal-02052001.  , 2015
Link: https://hal.archives-ouv..
 
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13

Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:

Chen, Cheng ; Labrousse, Denis ; Lefebvre, Stéphane..
hal-01065220.  , 2014
Link: https://hal.science/hal-..
 
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Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:

Chen, Cheng ; Labrousse, Denis ; Lefebvre, Stéphane..
hal-01065220.  , 2014
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Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:

Chen, Cheng ; Labrousse, Denis ; Lefebvre, Stéphane..
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