Ich stimme zu, dass diese Seite Cookies verwende. Weitere Informationen finden Sie unter unseren
Datenschutzerklärungen
.
X
Login
Merkliste (
0
)
Startseite
Über uns
Startseite Über uns
Neues aus der SuUB
Geschichte der SuUB
Bibliotheksprofil
Presseinformationen
Freundeskreis
Die Bibliothek in Zahlen
Ausstellungen
Projekte
Ausbildung, Praktika und Stellenangebote
Filme zur Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Service & Beratung
Startseite Service & Beratung
Ausleihe & Fernleihe
Rückgabe & Verlängerung
Schulungen & Führungen
Mein Bibliothekskonto
Bibliotheksausweis
Neu in der Bibliothek?
Informationsmaterialien, Formulare und Pläne zum Download
Öffnungszeiten
Lernort Bibliothek
PC, WLAN, Kopieren, Scannen, Drucken
Kataloge & Sammlungen
Startseite Kataloge & Sammlungen
Historische Sammlungen
Digitale Sammlungen
Fachinformationen
Standorte
Startseite Standorte
Zentrale
Juridicum
Bereichsbibliothek Wirtschaftswissenschaft
Bereichsbibliothek Physik / Elektrotechnik
Teilbibliothek Technik und Sozialwesen
Teilbibliothek Wirtschaft und Nautik
Teilbibliothek Musik
Teilbibliothek Kunst
Teilbibliothek Bremerhaven
Kontakt
Startseite Kontakt
Liste der Ansprechpartner
Open Access & Publizieren
Startseite Open Access & Publizieren
Literaturverwaltung
Literatur Publizieren
Open Access in Bremen
Toggle navigation
Chen, Cheng-Chen
30
Ergebnisse:
französisch X
Personensuche
X
Format
Online (30)
Medientypen
Artikel (Online) (1)
OpenAccess-Volltexte (29)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
2
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
3
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
4
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
5
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
6
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
7
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.archives-ouv..
?
8
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
9
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
10
Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applicatio..:
Aviño Salvado, Oriol
;
Chen, Cheng
;
Buttay, Cyril
...
hal-01361711. , 2016
Link:
https://hal.science/hal-..
?
11
Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:
Chen, Cheng
;
Michel, Laurent
;
Lachaud, Frederic
.
hal-02052001. , 2015
Link:
https://hal.science/hal-..
?
12
Simulation d'impact de composites stratifiés et effets de l..:
Chen, Cheng
;
Michel, Laurent
;
Lachaud, Frederic
.
hal-02052001. , 2015
Link:
https://hal.archives-ouv..
?
13
Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
..
hal-01065220. , 2014
Link:
https://hal.science/hal-..
?
14
Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
..
hal-01065220. , 2014
Link:
https://hal.archives-ouv..
?
15
Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC:
Chen, Cheng
;
Labrousse, Denis
;
Lefebvre, Stéphane
..
hal-01065220. , 2014
Link:
https://hal.science/hal-..
1-15
