Zimpeck, Alexandra Lackmann ; Meinhardt, Cristina ; Butzen, Paulo Francisco ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:. Acesso em: 08 abr. 2015..
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