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Ammerlaan, Anneke C. J.
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Group IV elements:

Condensed matter:

Semiconductors : supplement to Vols. III/17, 22 (print vers..:

Impurities and defects in group IV elements, IV-IV and III-..:

, In: , In: Numerical data and functional relationships in science and technology : new series / Landolt-Börnstein. Ed. in chief: W. Martienssen,
Schulz, M. ; Ammerlaan, C. A. J. ; Martienssen, W.... , 2002
Exemplar:  Zentrale:E02 h nat 090/02b-3,41,A,2,A
 
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Störstellen und Defekte in Elementen der IV. Gruppe und II..:

Kristall- und Festkörperphysik = Crystal and solid state p..:

Halbleiter : Ergänzungen und Erweiterungen zu Band 3/17 = ..:

, In: , In: Landolt-Börnstein Zahlenwerte und Funktionen aus Naturwissenschaften und Technik: Neue Serie = Numerical data and functional relationships in science and technology: new series / Ed.-in-chief: O. Madelung,
Ammerlaan, C. A. J. ; Madelung, Otfried ; Hellwege, Karl-Heinz.. , 1989
Exemplar:  Zentrale:E02 h nat 090/02b-3,22,b;
 
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Defects in silicon 

proceedings  European Materials Research Society Symposia Proceedings ; 9;Materials science and engineering, B ; 4,1/4
Ammerlaan, C. A. J. ; Chantre, A. ; Wagner, P. , 1989
Exemplar:  Zentrale:Magazinturm-E02 15h phy 948.4 i/230
 
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