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Altmann, David
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1

Reliability Physics of GaN HEMT Microwave Devices: The Age ..:

, In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Zanoni, Enrico ; Meneghini, Matteo ; Meneghesso, Gaudenzio... - p. 1-10 , 2020
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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2

Im Zeichen des Surrealismus (1924–1938):

, In: Manifeste und Proklamationen der europäischen Avantgarde (1909–1938),
Breton, André ; Goll, Yvan ; Voronca, Ilarie... - p. 327-426 , 2005
Link: https://doi.org/10.1007/..
 
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3

An Application of Soft Systems Methodology to Supply Chain ..:

, In: Supply Chain Management,
Smith, Ross ; Mackay, David ; Altmann, Graeme. ,
Link: https://doi.org/10.4018/..
 
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4

Contributors:

, In: Exercise-Cognition Interaction,
Altmann, Lori J.P. ; Ando, Soichi ; Audiffren, Michel... - p. ix-x , 2016
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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