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Argyrides, C.
1
Ergebnisse:
Buchkapitel (Online) X
Personensuche
X
?
1
Reliability aware yield improvement technique for nanotechn..:
, In:
Proceedings of the 22nd Annual Symposium on Integrated Circuits and System Design: Chip on the Dunes
,
Argyrides, C.
;
Dimosthenous, G.
;
Pradhan, D. K.
.. - p. 1-6 , 2009
Link:
https://dl.acm.org/doi/1..
1-1
