Beyer, L. P.
36  Ergebnisse:
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Laparoskopische Hemifundoplicatio nach ThaI im Kindesalter ..:

, In: Deutsche Gesellschaft für Chirurgie; Panta Rhei — Umdenken —,
Heller, K. ; Gutt, C. N. ; Schaeff, B... - p. 696-696 , 2001
 
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3

MOVPE growth and characterization of Ga(NAsP) laser structu..:

, In: 22nd IEEE International Semiconductor Laser Conference,
Liebich, S. ; Sweeney, S.J. ; Zimprich, M.... - p. 143-144 , 2010
 
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4

Arbeitsmaterialien:

, In: Praktische Umweltmedizin,
Fromme, H. ; Becker, N. ; Beyer, A.... - p. 127-195 , 2004
 
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6

Poster:

, In: Ersatz- und Ergänzungsmethoden zu Tierversuchen; Alternativen zu Tierversuchen in Ausbildung, Qualitätskontrolle und Herz-Kreislauf-Forschung,
Spielmann, H. ; Heuer, J. ; Grune-Wolff, B.... - p. 247-281 , 1993
 
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7

Influence of Increased Fe, Cu, and Zn Concentrations on Pha..:

, In: The Minerals, Metals & Materials Series; Light Metals 2024,
Beyer, T. ; Kleinhans, R. ; Rosefort, M.... - p. 234-240 , 2024
 
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8

Correlation of Thermodynamic Calculations and Mechanical Pr..:

, In: The Minerals, Metals & Materials Series; Light Metals 2024,
Siemund, A. ; Decker, P. ; Beyer, T.. - p. 248-254 , 2024
 
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9

Seismic Testing of Adjacent Interacting Masonry Structures ..:

, In: RILEM Bookseries; Structural Analysis of Historical Constructions,
Tomić, Igor ; Penna, Andrea ; DeJong, Matthew... - p. 1053-1064 , 2023
 
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10

List of contributors:

, In: Translational Sports Medicine,
 
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Influence of Increased Cu and Fe Concentrations on the Mech..:

, In: The Minerals, Metals & Materials Series; Light Metals 2023,
Beyer, T. ; Ebereonwu, D. ; Koch, A.... - p. 511-519 , 2023
 
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12

Scaled FinFETs Connected by Using Both Wafer Sides for Rout..:

, In: 2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits),
Veloso, A. ; Jourdain, A. ; Radisic, D.... - p. 284-285 , 2022
 
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13

Contributors:

, In: The Neuroscience of Depression,
 
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Performance and Reliability of 4 Mb eFLASH Memory Array Fea..:

, In: 2020 IEEE International Memory Workshop (IMW),
Jourba, S. ; Bollon, N. ; Decobert, C.... - p. 1-4 , 2020
 
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