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Catano, Christopher P
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Deep learning acceleration in 14nm CMOS compatible ReRAM ar..:

, In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM),
Gong, N. ; Rasch, M.J. ; Seo, S.-C.... - p. 33.7.1-33.7.4 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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