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Cunha, Ben-Hur da
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Testing Framework for Linear Electromagnetic Semi-Active an..:

, In: 2023 15th IEEE International Conference on Industry Applications (INDUSCON),
Bandeira Boff, Ben Hur ; Eckert, Paulo Roberto ; Flores, Jeferson Vieira... - p. 591-592 , 2023
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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Mitigating Noise in Ensemble Classification with Real-Value..:

, In: 2022 IEEE International Symposium on Information Theory (ISIT),
Ben-Hur, Yuval ; Goren, Asaf ; El Klang, Da.. - p. 2279-2284 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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