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Degli Abbati, Stefania
1
Ergebnisse:
Buchkapitel (Online) X
Personensuche
X
?
1
Industrial best practice: cases of study by automotive chip..:
, In:
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
,
Abbati, L. Degli
;
Ullmann, R.
;
Paganini, G.
... - p. 1-6 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
