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Degrenne, N.
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Temperature Evolution as an effect of Wire-bond Failures in..:

, In: 2020 22nd European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'20 ECCE Europe),
Degrenne, N. ; Delamea, R. ; Mollov, S. - p. P.1-P.8 , 2020
Link: https://doi.org/10.23919..
 
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Real-life vs. standard driving cycles and implications on E..:

, In: IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society,
Degrenne, N. ; Mollov, S. - p. 2177-2182 , 2016
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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