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Geiler, S
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Combined kerr-effect and polarization current measurements ..:

, In: 22nd International Symposium on High Voltage Engineering (ISH 2021),
Roth, L. ; Öftering, H. -P. ; Zink, M. H.... - p. None , 2021
Link: https://doi.org/10.1049/..
 
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2

Qorvo's Emerging GaN Technologies for mmWave Applications:

, In: 2020 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium (IMS),
Cao, Y. ; Kumar, V. ; Chen, S.... - p. 570-572 , 2020
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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3

Antiannealing Effects in Ion-Implanted and Electron Pulse I..:

, In: February 16,
Fischer, H. ; Geiler, H.-D. ; Götz, G.... - p. 795-798 , 1982
Link: https://doi.org/10.1515/..
 
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4

Influence of the Thickness of Damaged Layers on the Migrati..:

, In: February 16,
Dvurechenskii, A. V. ; Mustafin, T. N. ; Smirnov, L. S.... - p. 843-846 , 1981
Link: https://doi.org/10.1515/..
 
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