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Haitjema, Han
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1

A Metrological Characteristics Approach to Uncertainty in S..:

, In: Optical Inspection of Microsystems,
Leach, Richard ; Haitjema, Han ; Giusca, Claudiu - p. 73-91 , 2019
Link: https://doi.org/10.1201/..
 
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2

Advanced Optical Incremental Sensors:

, In: Smart Sensors and MEMs,
Cosijns, Suzanne J.A.G. ; Jansen, Maarten J. ; Haitjema, Han - p. 245-290 , 2018
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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3

List of Contributors:

, In: Smart Sensors and MEMs,
Aracil, Carmen ; Aslan, Semih ; Bermejo, Sandra... - p. xi-xii , 2018
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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4

Length Traceability Using Interferometry:

, In: Fundamental Principles of Engineering Nanometrology,
Haitjema, Han - p. 63-93 , 2014
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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5

Length traceability using interferometry:

, In: Fundamental Principles of Engineering Nanometrology,
Haitjema, Han - p. 55-83 , 2010
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
1-5