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Jaschke, M.
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1

Contributors:

, In: Advances in Laser Materials Processing,
Acherjee, B. ; Ahad, I.U. ; Akinlabi, E.T.... - p. xv-xviii , 2018
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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2

Measuring the wafer temperature in CVD tools using the wire..:

, In: 2017 28th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC),
Engelmann, J. ; Chu, D. ; Dupraz, T.... - p. 161-164 , 2017
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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3

Contributors:

, In: High-Yield Imaging: Gastrointestinal,
Adler, Samuel Nathan ; Baker, Stephen R. ; Balachandran, Aparna... - p. ix , 2010
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
1-3