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Lingley, Z.
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STEM EBIC for High-Resolution Electronic Characterization:

, In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Hubbard, W. A. ; Lingley, Z. ; Theiss, J... - p. 1-5 , 2020
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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2

Catastrophic Degradation in High-Power Buried Heterostructu..:

, In: 2019 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO),
Sin, Y. ; Lingley, Z. ; Brodie, M.... - p. 1-2 , 2019
Link: https://doi.org/10.1364/..
 
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