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Magnan, S.
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Design Techniques Evaluation to Mitigate RTS Noise Effect i..:

, In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS),
da Cunha, M. Gouveia ; Place, S. ; Gauthier, O.... - p. P67.TX-1-P67.TX-6 , 2024
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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2

A Highly Reliable Back Side Illuminated Pixel against Plasm..:

, In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Sacchettini, Y. ; Carrere, J.-P. ; Doyen, C.... - p. 16.5.1-16.5.4 , 2019
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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3

List of Contributors:

, In: Biomarkers in Toxicology,
Aliberti, Angela ; Allard, Patrick ; Anadón, Arturo... - p. xiii-xix , 2014
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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