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Rongen, Frédérique C
1
Ergebnisse:
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1
Empirical Model for the Degradation of IMC in SACQ Solder B..:
, In:
2020 IEEE 70th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)
,
Mavinkurve, R. Roucou A.
;
Rongen, R. T. H.
;
Bestory, C.
- p. 1502-1508 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
