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Ryu, Hoyoung
1
Ergebnisse:
Buchkapitel (Online) X
Personensuche
X
?
1
Impacts of conduction band offset and border traps on Vth i..:
, In:
2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD)
,
Choi, Woojin
;
Ryu, Hojin
;
Jeon, Namcheol
... - p. 370-373 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
