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Sanquer, S
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Gate reflectometry for probing charge and spin states in li..:

, In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Hutin, L. ; Lundberg, T. ; Chatterjee, A.... - p. 37.7.1-37.7.4 , 2019
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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Qubit read-out in Semiconductor quantum processors: challen..:

, In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Meunier, T. ; Urdampilleta, M. ; Niegemann, D.... - p. 31.6.1-31.6.4 , 2019
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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