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Tan, Sarah ML
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Contributing Authors:

, In: Contact Lens Practice,
Barr, Joseph T. ; Brennan, Noel A. ; Bruce, Adrian S.... - p. vii-viii , 2018
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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2

Study of Silicon thickness for electron transparency:

, In: 2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA),
HK, Tan ; BH, Liu ; ML, Chooi.. - p. 1-4 , 2019
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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