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Watanabe, Yukihiko
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Evaluation of Trap Parameters of RC-IGBT After Repetitive A..:

, In: 2024 36th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD),
Yamashita, Yusuke ; Watanabe, Yukihiko ; Murakawa, Koichi. - p. 52-55 , 2024
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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Does Double-entry Bookkeeping Information Generated Using n..:

, In: 2023 IEEE International Conference on Big Data (BigData),
Motai, Ryoki ; Kamebuchi, Masato ; Watanabe, Sora.. - p. 3194-3201 , 2023
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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