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Zhang, R.-L.
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Parameter extraction in a 65nm nMOSFET technology from 300 ..:

, In: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC),
Lopez-L, O. ; Martinez-R, I. ; Durini, D.... - p. 1-4 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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