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Das, Debesh K
52
Ergebnisse:
Artikel (Online) X
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X
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Power-aware partitioning and test time reduction for 3D-SoC:
Banerjee, Sabyasachee
;
Majumder, Subhashis
;
Bhattacharya, Bhargab B.
.
Innovations in Systems and Software Engineering. 20 (2022) 3 - p. 485-498 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
2
Fast algorithms for test optimization of core based 3D SoC:
Banerjee, Sabyasachee
;
Majumder, Subhashis
;
Das, Debesh K.
.
Integration. 77 (2021) - p. 70-88 , 2021
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
An iterative structure for synthesizing symmetric functions..:
Deb, Arighna
;
Das, Debesh K.
Microprocessors and Microsystems. 53 (2017) - p. 157-167 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Reversible synthesis of symmetric functions with a simple r..:
Deb, Arighna
;
Das, Debesh K.
;
Rahaman, Hafizur
.... (2016) - p. 1-29
Link:
http://dx.doi.org/10.114..
?
5
Reversible Synthesis of Symmetric Functions with a Simple R..:
Deb, Arighna
;
Das, Debesh K.
;
Rahaman, Hafizur
...
ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems (JETC). 12 (2016) 4 - p. 1-29 , 2016
Link:
https://dl.acm.org/doi/1..
?
6
Reversible Synthesis of Symmetric Functions with a Simple R..:
Deb, Arighna
;
Das, Debesh K.
;
Rahaman, Hafizur
...
ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems. 12 (2016) 4 - p. 1-29 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1145/..
?
7
Derivation of test set for detecting multiple missing-gate ..:
Kole, Dipak K.
;
Rahaman, Hafizur
;
Das, Debesh K.
.
Computers & Electrical Engineering. 39 (2013) 2 - p. 225-236 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
8
Fault diagnosis in reversible circuits under missing-gate f..:
Rahaman, Hafizur
;
Kole, Dipak K.
;
Das, Debesh K.
.
Computers & Electrical Engineering. 37 (2011) 4 - p. 475-485 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
Testable design of AND–EXOR logic networks with universal t..:
Rahaman, Hafizur
;
Das, Debesh K.
;
Bhattacharya, Bhargab B.
Computers & Electrical Engineering. 35 (2009) 5 - p. 644-658 , 2009
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Implementing Symmetric Functions with Hierarchical Modules ..:
Rahaman, Hafizur
;
Das, Debesh K.
;
Bhattacharya, Bhargab B.
Journal of Electronic Testing. 22 (2006) 2 - p. 125-142 , 2006
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
11
A Degree-of-Freedom Based Synthesis Scheme for Sequential M..:
Sikdar, Biplab K.
;
Roy, S.
;
Das, Debesh K.
Journal of Electronic Testing. 21 (2005) 1 - p. 83-93 , 2005
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
12
Universal and robust testing of stuck-open faults in Reed–M..:
Das, Debesh K.
;
Chakraborty, Susanta
;
Bhattacharya, Bhargab B.
International Journal of Electronics. 90 (2003) 1 - p. 1-11 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1080/..
?
13
BIST design for detecting multiple stuck-open faults in CMO..:
Rahaman, Hafizur
;
Das, Debesh K.
;
Bhattacharya, Bhargab B.
Journal of Computer Science and Technology. 17 (2002) 6 - p. 731-737 , 2002
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
14
Logical redundancies in irredundant combinational circuits:
Chakraborty, Susanta
;
Das, Debesh K.
;
Bhattacharya, Bhargab B.
Journal of Electronic Testing. 4 (1993) 2 - p. 125-130 , 1993
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
15
Irredundant binate realizations of unate functions:
DAS, DEBESH K.
;
CHAKRABORTY, SUSANTA
;
BHATTACHARYA, BHARGAB B.
International Journal of Electronics. 75 (1993) 1 - p. 65-73 , 1993
Link:
https://doi.org/10.1080/..
1-15