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Kom Kammeugne, R
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New insights into low frequency noise (LFN) sources analysi..:

Kom Kammeugne, R. ; Theodorou, C. ; Leroux, C....
Solid-State Electronics.  200 (2023)  - p. 108555 , 2023
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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Accurate statistical extraction of AlGaN/GaN HEMT device pa..:

Kom Kammeugne, R. ; Leroux, C. ; Cluzel, J....
Solid-State Electronics.  184 (2021)  - p. 108078 , 2021
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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On-Wafer Drain Current Variability in GaN MIS-HEMT on 200-m..:

Kammeugne, Romeo Kom ; Leroux, Charles ; Theodorou, Christoforos...
Journal of Electronics and Electrical Engineering.  , 2023
Link: https://doi.org/10.37256..
 
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In Depth Parasitic Capacitance Analysis on GaN-HEMTs with R..:

Kammeugne, Romeo Kom ; Leroux, Charles ; Frutuoso, Tadeu Mota...
Journal of Electronics and Electrical Engineering.  , 2022
Link: https://doi.org/10.37256..
 
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