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Rajaguru, Pushparajah
6
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X
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Coupled thermal-mechanical analysis of power electronic mod..:
Hassan, Sheikh
;
Rajaguru, Pushparajah
;
Stoyanov, Stoyan
..
Power Electronic Devices and Components. 8 (2024) - p. 100063 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Sintered silver finite element modelling and reliability ba..:
Rajaguru, Pushparajah
;
Lu, Hua
;
Bailey, Chris
Microelectronics Reliability. 55 (2015) 6 - p. 919-930 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
A time dependent damage indicator model for Sn3.5Ag solder ..:
Rajaguru, Pushparajah
;
Lu, Hua
;
Bailey, Chris
Microelectronics Reliability. 55 (2015) 11 - p. 2371-2381 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Application of nonlinear fatigue damage models in power ele..:
Rajaguru, Pushparajah
;
Lu, Hua
;
Bailey, Chris
Advances in Manufacturing. 2 (2014) 3 - p. 239-250 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
5
Buckling analysis on the hull of the historic paddle steame..:
Rajaguru, Pushparajah
;
Mason, Peter
;
Bailey, Chris
.
Ships and Offshore Structures. 9 (2013) 6 - p. 643-654 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1080/..
?
6
Application of Kriging and radial basis function in power e..:
Rajaguru, Pushparajah
;
Lu, Hua
;
Bailey, Chris
International Journal of Fatigue. 45 (2012) - p. 61-70 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-6