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Open Access in Bremen
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Tyaginov, Stanislav
10
Ergebnisse:
OpenAccess-Volltexte X
Personensuche
X
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Par..:
Makarov, Alexander
;
Roussel, Philippe
;
Bury, Erik
...
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7407495/. , 2020
Link:
http://www.ncbi.nlm.nih...
?
2
Impact of Mixed Negative Bias Temperature Instability and H..:
Jech, Markus
;
Ullmann, Bianka
;
Rzepa, Gerhard
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1557-9646. , 2019
Link:
https://publications.rwt..
?
3
MODELING OF HOT-CARRIER DEGRADATION BASED ON THOROUGH CARRI..:
Tyaginov, Stanislav
;
Wimmer, Yannick
;
Grasser, Tibor
http://casopisi.junis.ni.ac.rs/index.php/FUElectEnerg/article/view/513/230. , 2014
Link:
http://casopisi.junis.ni..
?
4
Modeling of hot-carrier degradation based on thorough carri..:
Tyaginov, Stanislav
;
Wimmer, Yannick
;
Grasser, Tibor
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.2298/FUEE1404479T. , 2014
Link:
http://scindeks.ceon.rs/..
?
5
Impact of Nitridation on Bias Temperature Instability and H..:
Stanislav Tyaginov
;
Barry O'Sullivan
;
Adrian Chasin
...
https://www.mdpi.com/2072-666X/14/8/1514. , 2023
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
6
Impact of Nitridation on Bias Temperature Instability and H..:
Stanislav Tyaginov
;
Barry O'Sullivan
;
Adrian Chasin
...
E:Engineering and Technology. , 2023
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
7
Physical Modeling the Impact of Self-Heating on Hot-Carrier..:
Stanislav Tyaginov
;
Alexander Makarov
;
Erik Bury
...
info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020/794950/. , 2020
Link:
https://zenodo.org/recor..
?
8
Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Par..:
Alexander Makarov
;
Philippe Roussel
;
Erik Bury
...
https://dx.doi.org/10.3390/mi11070657. , 2020
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
9
Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Par..:
Alexander Makarov
;
Philippe Roussel
;
Erik Bury
...
https://www.mdpi.com/2072-666X/11/7/657. , 2020
Link:
https://doi.org/10.3390/..
?
10
The Influence of Gate Bias on the Anneal of Hot-Carrier Deg..:
Michiel Vandemaele
;
Kai-Hsin Chuang
;
Erik Bury
...
info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020/794950/. , 2020
Link:
https://zenodo.org/recor..
1-10
