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Acero Leal, María Cruz
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1
Physical characterization of filamentary structures in TiN/..:
Poblador, Samuel
;
Maestro, Marcos
;
Acero Leal, María Cruz
..
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2018
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
2
Effect of Resistive Switching Cycling on the Physical Chara..:
Muñoz-Gorriz, J
;
Acero Leal, María Cruz
;
González, M. B
..
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2018
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
3
Assessment of resistive switching characteristics on differ..:
Maestro, Marcos
;
Poblador, Samuel
;
Zabala, Miguel
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2018
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
4
Electrical characterization and resistive switching behavio..:
Maestro, Marcos
;
Poblador, Samuel
;
Zabala, Miguel
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2018
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
5
Electrical characterization of defects created by ¿-radiati..:
García, Héctor
;
Castán, H
;
Dueñas, S
...
Sí. , 2017
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
6
Investigation of the multilevel capability of TiN/Ti/HfO2/W..:
González, M. B
;
Poblador, Samuel
;
Mallol, M. M
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2017
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
7
Electrical characterization of TiN/Ti/HfO2/W resistive swit..:
Poblador, Samuel
;
Acero Leal, María Cruz
;
Mallol, M. M
..
Sí. , 2017
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
8
Exploring the Multilevel Capabiblity of TIN/Ti/HfO2/W RRAM ..:
González, M. B
;
Acero Leal, María Cruz
;
Calvo Angos, José
..
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2016
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
9
Investigation of the resistive switching behavior in Ni/HfO..:
González, M. B
;
Acero Leal, María Cruz
;
Beldarrain, O
..
http://dx.doi.org/10.1109/CDE.2015.7087499. , 2015
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
10
Effect of the blistering of ALD Al2O3 films on the silicon ..:
Acero Leal, María Cruz
;
Beldarrain, O
;
Duch, M
...
http://dx.doi.org/10.1109/CDE.2015.7087443. , 2015
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
11
Dedicated Random Telegraph Noise Characterization of Ni/HfO..:
González, M. B
;
Martín-Martínez, Javier
;
Rodríguez, Rosana
...
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2015
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
12
Dedicated random telegraph noise characterization of Ni/HfO..:
Bargallo Gonzalez, Mireia
;
Martin Martinez, Javier
;
Rodríguez Martínez, Rosana
...
Ministerio de Economía y Competitividad TEC2011-27292-C02-02. , 2015
Link:
https://ddd.uab.cat/reco..
?
13
Blistering of ALD Al2O3 films in Al-Al2O3-Si structures:
Campabadal, Francesca
;
Acero Leal, María Cruz
;
Beldarrain, O
...
Sí. , 2015
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
14
Dispositivo para generar energía eléctrica a partir de pequ..:
Esteve i Tintó, Jaume
;
Acero Leal, María Cruz
;
Fondevilla Sala, Nuria
..
ES2377656 B1 (2013-06-02). , 2012
Link:
http://hdl.handle.net/10..
?
15
Comparison between Al2O3 thin films grown by ALD using H2O ..:
Campabadal, Francesca
;
Beldarrain, O
;
Zabala, Miguel
..
#PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#. , 2011
Link:
http://hdl.handle.net/10..
1-15