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Adam, Matheus
67  Ergebnisse:
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1

Sputtered Silicon Nitride Thin Films for Non-Volatile Memor..:

Adam, Matheus ; Coelho, Artur Vicente P. ; Pereira, Marcelo B..
ECS Transactions.  39 (2011)  1 - p. 371-377 , 2011
Link: https://doi.org/10.1149/..
 
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2

The role of Li+ and Yb3+ in modulating the electronic struc..:

Liu, Yihong ; Chang, Lo-Yueh ; Hsu, Liang-Ching...
Journal of Alloys and Compounds.  957 (2023)  - p. 170422 , 2023
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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3

Dyads and Triads of Boron Difluoride Formazanate and Boron ..:

Buguis, Francis L. ; Hsu, Nathan Sung Y. ; Sirohey, Sofia A....
Chemistry – A European Journal.  29 (2023)  71 - p. , 2023
Link: https://doi.org/10.1002/..
 
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4

Surface Debye temperature determination from LEED: correlat..:

Adam, Matheus C. ; Darukhanawalla, Nazban ; Gaudet, James M....
Surface Science.  723 (2022)  - p. 122104 , 2022
Link: https://doi.org/10.1016/..
 
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5

Nitreto de silício depositado por sputtering reativo para a..:

Adam, Matheus Coelho
http://hdl.handle.net/10183/83659.  , 2013
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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6

Nitreto de silício depositado por sputtering reativo para a..:

Adam, Matheus Coelho , 2013
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Caracterização de níveis de defeitos próximos à banda de va..:

Adam, Matheus Coelho , 2010
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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8

Um novo método de distinção entre defeitos bulk e estados d..:

Adam, Matheus Coelho
Salão de Iniciação Científica (22. : 2010 out. 18-22 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2010..  , 2010
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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9

Caracterização de níveis de defeitos próximos à banda de va..:

Adam, Matheus Coelho , 2010
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Um novo método de distinção entre defeitos bulk e estados d..:

Adam, Matheus Coelho
Salão de Iniciação Científica (22. : 2010 out. 18-22 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2010..  , 2010
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Isolação Elétrica em GaAs irradiado com prótons: estudo dos..:

Adam, Matheus Coelho ; Coelho, Artur Vicente Pfeifer
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009..  , 2009
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Isolação Elétrica em GaAs irradiado com prótons: estudo dos..:

Adam, Matheus Coelho ; Coelho, Artur Vicente Pfeifer
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009..  , 2009
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Junções rasas em si e simox: perfil de dopantes caracteriza..:

Adam, Matheus Coelho
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008..  , 2008
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Junções rasas em si e simox: perfil de dopantes caracteriza..:

Adam, Matheus Coelho
Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008..  , 2008
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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Propriedades magnéticas e elétricas de materiais supercondu..:

Adam, Matheus Coelho
Salão de Iniciação Científica (19. : 2007 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2007..  , 2007
Link: http://hdl.handle.net/10..
 
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