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Ahn, Dukmin
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1
Identification and Control of Surface Charge Defect Induced..:
, In:
2022 33rd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)
,
Jeong, Jaein
;
Ahn, Dukmin
;
Kim, Myungjoon
... - p. 1-5 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
Micro Unetched Oxide Defect during Buffered Oxide Etchant P..:
Lim, SeungTaek
;
Ahn, Dukmin
;
Kim, Kihyun
...
ECS Transactions. 58 (2013) 6 - p. 127-132 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
3
Lysosome based toxic detection in Saccharomyces cerevisiae ..:
Nguyen, Ngoc-Tu
;
Ahn, Ji-Young
;
Bang, Seung Hyuck
...
Molecular & Cellular Toxicology. 12 (2016) 2 - p. 133-138 , 2016
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
4
Device Performance Improvement Based on Transient Enhanced ..:
Hyun-Sik Kim, Hyun-Sik Kim
;
Jong-Hyon Ahn, Jong-Hyon Ahn
;
Duk-Min Lee, Duk-Min Lee
...
Japanese Journal of Applied Physics. 39 (2000) 4S - p. 2172 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1143/..
1-4