Auersperg, J.
502  Ergebnisse:
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Effects of residual stresses on cracking and delamination r..:

Auersperg, J. ; Collet, C. ; Dean, Th...
Microelectronics Reliability.  64 (2016)  - p. 665-668 , 2016
 
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6

On the crack and delamination risk optimization of a Si-int..:

Auersperg, J. ; Dudek, R. ; Jordan, R....
Microelectronics Reliability.  54 (2014)  6-7 - p. 1223-1227 , 2014
 
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7

Stress analyses of high spatial resolution on TSV and BEoL ..:

Vogel, D. ; Auerswald, E. ; Auersperg, J....
Microelectronics Reliability.  54 (2014)  9-10 - p. 1963-1968 , 2014
 
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Identifying the Reliability Affecting Parameters of SBB Fli..:

, In: 2006 1st Electronic Systemintegration Technology Conference,
Dressler, M. ; Rohde, H. ; Liebing, G.... - p. None , 2006
 
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FibDAC - Residual Stress Determination by Combination of Fo..:

Keller, J. ; Gollhardt, A. ; Vogel, Dietmar...
Materials Science Forum.  524-525 (2006)  - p. 121-126 , 2006
 
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Verbundprojekt: Informations- und Kommunikationsplattform R.. 

Laufzeit: 01.11.2002 - 31.10.2004 ; Schlussbericht 
 
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Integration modular aufgebauter Antriebssysteme in Maschine.. 

Abschlussbericht zum BMBF-Verbundprojekt ; Laufzeit des Vor... 
 
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Die periphere Beeinflußbarkeit postcommotioneller Kopfschme..:

Auersperg
Deutsche Zeitschrift für Nervenheilkunde.  155 (1943)  3-4 - p. 153-166 , 1943
 
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