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Banshchikov, A. G.
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1
Variability and high temperature reliability of graphene fi..:
Illarionov, Yu. Yu.
;
Knobloch, T.
;
Uzlu, B.
...
npj 2D Materials and Applications. 8 (2024) 1 - p. , 2024
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
2
Calcium Fluoride Films with 2–10 nm Thickness on Silicon-(1..:
Banshchikov, A. G.
;
Vexler, M. I.
;
Ivanov, I. A.
...
Semiconductors. 57 (2023) 4 - p. 211-215 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
3
Effect of fluoride layer thickness on the leakage current i..:
Banshchikov, A.G.
;
Dvortsova, P.A.
;
Illarionov, Yu.Yu.
...
Thin Solid Films. 783 (2023) - p. 140058 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Universal magnetic proximity effect in ferromagnet–semicond..:
Kalitukha, I. V.
;
Yalcin, E.
;
Ken, O. S.
...
The Journal of Chemical Physics. 159 (2023) 1 - p. , 2023
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
5
Energy-Gap Opening Near the Dirac Point after the Depositio..:
Kaveev, A. K.
;
Banshchikov, A. G.
;
Terpitskiy, A. N.
...
Semiconductors. 54 (2020) 9 - p. 1051-1055 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
6
Crystalline Calcium Fluoride: A Record-Thin Insulator for N..:
, In:
2020 Device Research Conference (DRC)
,
Illarionov, Yu. Yu.
;
Banshchikov, A. G.
;
Knobloch, T.
... - p. 1-2 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
7
Trends in Reverse-Current Change in Tunnel MIS Diodes with ..:
Banshchikov, A. G.
;
Illarionov, Yu. Yu.
;
Vexler, M. I.
..
Semiconductors. 53 (2019) 6 - p. 833-837 , 2019
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
8
Nonmonotonic Change in the Tunnel Conductivity of an MIS St..:
Illarionov, Yu. Yu.
;
Banshchikov, A. G.
;
Sokolov, N. S.
..
Technical Physics Letters. 44 (2018) 12 - p. 1188-1191 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
9
Epitaxial layers of nickel fluoride on Si(111): Growth and ..:
Banshchikov, A. G.
;
Golosovskii, I. V.
;
Krupin, A. V.
...
Physics of the Solid State. 57 (2015) 8 - p. 1647-1652 , 2015
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
10
Longitudinal conductivity of thin films of La1 − x Sr x F3 ..:
Vergentyev, T. Yu.
;
Koroleva, E. Yu.
;
Banshchikov, A. G.
..
Russian Journal of Electrochemistry. 49 (2013) 8 - p. 783-787 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
11
Stabilization of the NiF2 orthorhombic phase in epitaxial h..:
Banshchikov, A. G.
;
Koshmak, K. V.
;
Krupin, A. V.
.
Technical Physics Letters. 38 (2012) 9 - p. 809-811 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1134/..
?
12
Proximity effects and exchange bias in Co/MnF2(111) heteros..:
Suturin, S M
;
Fedorov, V V
;
Banshchikov, A G
...
Journal of Physics: Condensed Matter. 25 (2012) 4 - p. 046002 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
13
Electrical characterization and modeling of the Au/CaF2/nSi..:
Vexler, M. I.
;
Sokolov, N. S.
;
Suturin, S. M.
...
Journal of Applied Physics. 105 (2009) 8 - p. , 2009
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
14
Determination of correlation length for thickness fluctuati..:
Tyaginov, S E
;
Vexler, M I
;
Sokolov, N S
...
Journal of Physics D: Applied Physics. 42 (2009) 11 - p. 115307 , 2009
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
15
Surface X-ray diffraction studies of CaF2(110)/Si(001) inte..:
Shimura, T.
;
Suturin, S.M.
;
Sokolov, N.S.
...
Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography. 64 (2008) a1 - p. C556-C556 , 2008
Link:
https://doi.org/10.1107/..
1-15