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Beavers, Jace
1
Ergebnisse:
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1
UV-LED Lithography System and Characterization:
, In:
2020 IEEE 15th International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular System (NEMS)
,
Shiba, Sabera Fahmida
;
Beavers, Jace
;
Laramore, Diego
... - p. 73-76 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-1
