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Bhoumik, Partho
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Design-for-Test Solutions for 3D Integrated Circuits*:

Hung, Shao-Chun ; Bhoumik, Partho ; Chaudhuri, Arjun..
Integrated Circuits and Systems.  , 2024
Link: https://doi.org/10.23919..
 
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Testing and Fault Diagnosis for Multi-level Resistive Rando..:

, In: 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS),
Hung, Shao-Chun ; Bhoumik, Partho ; Chakrabarty, Krishnendu - p. 1-7 , 2024
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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