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Bons, A-J
2
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Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
A Users Perspective of Remote TEM:
Brown, G
;
Bons, A-J
;
Balen, A van
...
Microscopy and Microanalysis. 15 (2009) S2 - p. 1102-1103 , 2009
Link:
https://doi.org/10.1017/..
?
2
Si-doping of MOCVD GaAs : closer analysis of the incorporat..:
Tang, X
;
Lochs, HGM
;
Hageman, Paul R
...
ISSN:0022-0248. , 1989
Link:
http://repository.tue.nl..
1-2
