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Chimenton, Andrea
6
Ergebnisse:
Personensuche
X
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
New Statistical Data and Modeling of Stress-Induced Leakage..:
Chimenton, Andrea
;
Mielke, Neal R.
;
Cho, Eunhwan
.
IEEE Electron Device Letters. 43 (2022) 1 - p. 29-31 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
2
Dielectric Reliability for Future Logic and Non-Volatile Me..:
Padovani, Andrea
;
Larcher, Luca
;
Chimenton, Andrea
..
ECS Transactions. 8 (2007) 1 - p. 237-242 , 2007
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
3
Reliability of erasing operation in NOR-Flash memories:
Chimenton, Andrea
;
Olivo, Piero
Microelectronics Reliability. 45 (2005) 7-8 - p. 1094-1108 , 2005
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Erratic Bits in Flash Memories under Fowler-Nordheim Progra..:
Chimenton, Andrea
;
Pellati, Paolo
;
Olivo, Piero
Japanese Journal of Applied Physics. 42 (2003) Part 1, No. 4B - p. 2041-2043 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1143/..
?
5
Flash Memory Reliability: an Improvement Against Erratic Er..:
Chimenton, Andrea
;
Olivo, Piero
Japanese Journal of Applied Physics. 42 (2003) Part 1, No. 4B - p. 2025-2027 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1143/..
?
6
Threshold voltage spread in flash memories under a constant..:
Chimenton, Andrea
;
Pellati, Paolo
;
Olivo, Piero
Microelectronic Engineering. 59 (2001) 1-4 - p. 197-201 , 2001
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-6