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Clement Wann, H.
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1
MOSFET carrier mobility model based on gate oxide thickness..:
Chen, Kai
;
Clement Wann, H.
;
Dunster, Jon
...
Solid-State Electronics. 39 (1996) 10 - p. 1515-1518 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Experimental Demonstration of (111)-Oriented GaAs Metal–Oxi..:
Han, Tsung-Yu
;
Luo, Guang-Li
;
Cheng, Chao-Ching
...
ECS Journal of Solid State Science and Technology. 3 (2014) 4 - p. P86-P90 , 2014
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
3
Comparative analysis of hole transport in compressively str..:
Agrawal, Ashish
;
Barth, Michael
;
Madan, Himanshu
...
Applied Physics Letters. 105 (2014) 5 - p. , 2014
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
4
Band alignment study of lattice-matched InAlP and Ge using ..:
Owen, Man Hon Samuel
;
Guo, Cheng
;
Chen, Shu-Han
...
Applied Physics Letters. 103 (2013) 3 - p. , 2013
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
5
Improvement of defect reduction in semi-polar GaN grown on ..:
Lee, Ling
;
Chien, Kun-Feng
;
Chou, Wu-Ching
...
CrystEngComm. 14 (2012) 13 - p. 4486 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1039/..
?
6
Optical Studies of GaAs Nanowires Grown on Trenched Si(001)..:
Lee, Ling
;
Chien, Kun-Feng
;
Fan, Wen-Chung
...
Japanese Journal of Applied Physics. 51 (2012) 6S - p. 06FG15 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1143/..
?
7
Optical Studies of GaAs Nanowires Grown on Trenched Si(001)..:
Lee, Ling
;
Chien, Kun-Feng
;
Fan, Wen-Chung
...
Japanese Journal of Applied Physics. 51 (2012) 6S - p. 06FG15 , 2012
Link:
https://doi.org/10.7567/..
?
8
Nearly Dislocation-free Ge/Si Heterostructures by Using Nan..:
Luo, Guang-Li
;
Ko, Chih-Hsin
;
Wann, Clement H.
...
Physics Procedia. 25 (2012) - p. 105-109 , 2012
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
Self-Aligned Gate-First In[sub 0.7]Ga[sub 0.3]As n-MOSFETs ..:
Gong, Xiao
;
Ivana
;
Chin, Hock-Chun
...
Electrochemical and Solid-State Letters. 14 (2011) 3 - p. H117 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
10
Single Crystalline GaN Epitaxial Layer Prepared on Nano-Pat..:
Huang, C. C.
;
Chang, S. J.
;
Kuo, C. H.
...
Journal of The Electrochemical Society. 158 (2011) 6 - p. H626-H629 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
11
Reduction of Off-State Leakage Current in In0.7Ga0.3As Chan..:
Zhang, Xingui
;
Guo, Huaxin
;
Lin, Hau-Yu
...
Electrochemical and Solid-State Letters. 14 (2011) 5 - p. H212 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
12
Influences of surface reconstruction on the atomic-layer-de..:
Lin, Hau-Yu
;
Wu, San-Lein
;
Cheng, Chao-Ching
...
Applied Physics Letters. 98 (2011) 12 - p. , 2011
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
13
In[sub 0.7]Ga[sub 0.3]As Channel n-MOSFET with Self-Aligned..:
Zhang, Xingui
;
Guo, Huaxin
;
Gong, Xiao
...
Electrochemical and Solid-State Letters. 14 (2011) 2 - p. H60 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
14
III–V MOSFETs with a new self-aligned contact:
, In:
2010 Symposium on VLSI Technology
,
Zhang, Xingui
;
Guo, Huaxin
;
Ko, Chih-Hsin
... - p. 233-234 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
15
High crystalline quality Ge grown by MOCVD inside narrow sh..:
Vellianitis, G.
;
van Dal, M.J.H.
;
Duriez, B.
...
Journal of Crystal Growth. 383 (2013) - p. 9-11 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15