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Cromwijk, Tamar
6
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OpenAccess-Volltexte (4)
Sortierung: Relevanz
Sortierung: Jahr
?
1
Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar..:
Çiftçi, H. Tunç
;
Verhage, Michael
;
Cromwijk, Tamar
...
Microsystems & Nanoengineering. 8 (2022) 1 - p. , 2022
Link:
https://doi.org/10.1038/..
?
2
Field-position dependent apodization in dark-field Digital ..:
Cromwijk, Tamar
;
Adhikary, Manashee
;
Messinis, Christos
...
Optics Express. , 2022
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
3
Switchable-magnetisation planar probe MFM sensor:
Verhage, Michael
;
Çiftçi, Tunç H
;
Reul, Michiel
...
http://arxiv.org/abs/2302.11387. , 2023
Link:
http://arxiv.org/abs/230..
?
4
Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar..:
Çiftçi, H. Tunç
;
Verhage, Michael
;
Cromwijk, Tamar
...
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC9108095/. , 2022
Link:
http://www.ncbi.nlm.nih...
?
5
Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar..:
Çiftçi, H. Tunç
;
Verhage, Michael
;
Cromwijk, Tamar
...
http://arxiv.org/abs/2202.00952. , 2022
Link:
http://arxiv.org/abs/220..
?
6
Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar..:
H. Tunç Çiftçi
;
Michael Verhage
;
Tamar Cromwijk
...
https://doi.org/10.1038/s41378-022-00379-x. , 2022
Link:
https://doi.org/10.1038/..
1-6