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Dandliker, R
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1
Selective coupling of and modes into microfabricated fully ..:
Tortora, P.
;
Descrovi, E.
;
Aeschimann, L.
...
Ultramicroscopy. 107 (2007) 2-3 - p. 158-165 , 2007
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Detection of non-paraxial optical fields by optical fiber t..:
Tortora, P.
;
Dändliker, R.
;
Nakagawa, W.
.
Optics Communications. 259 (2006) 2 - p. 876-882 , 2006
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
Propagation of the electromagnetic field in fully coated ne..:
Vaccaro, L.
;
Aeschimann, L.
;
Staufer, U.
..
Applied Physics Letters. 83 (2003) 3 - p. 584-586 , 2003
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
4
Measuring amplitude and phase distribution of fields genera..:
Nesci, A.
;
Dändliker, R.
;
Salt, M.
.
Optics Communications. 205 (2002) 4-6 - p. 229-238 , 2002
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Distance measurement by multiple-wavelength interferometry:
Dändliker, R
;
Salvadé, Y
;
Zimmermann, E
Journal of Optics. 29 (1998) 3 - p. 105-114 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
6
Detection of movement with laser speckle patterns: statisti..:
Schnell, U.
;
Piot, J.
;
Dändliker, R.
Journal of the Optical Society of America A. 15 (1998) 1 - p. 207 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
7
Scanning near-field optical microscopy: transfer function a..:
Blattner, P.
;
Herzig, H.P.
;
Dändliker, R.
Optics Communications. 155 (1998) 4-6 - p. 245-250 , 1998
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
8
Microlens lithography and smart masks:
Völkel, R.
;
Herzig, H.P.
;
Nussbaum, Ph.
...
Microelectronic Engineering. 35 (1997) 1-4 - p. 513-516 , 1997
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
9
Pure phase correlator with photorefractive filter memory:
Duelli, M.
;
Pourzand, A. R.
;
Collings, N.
.
Optics Letters. 22 (1997) 2 - p. 87 , 1997
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
10
Dispersive white-light interferometry for absolute distance..:
Schnell, U.
;
Gray, S.
;
Dändliker, R.
Optics Letters. 21 (1996) 7 - p. 528 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
11
Multiple-Wavelength and White-Light Interferometry:
, In:
Laser in Forschung und Technik / Laser in Research and Engineering
,
Dändliker, R.
;
Zimmermann, E.
;
Schnell, U.
. - p. 425-437 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
12
Stabilized three-wavelength source calibrated by electronic..:
Zimmermann, E.
;
Salvadé, Y.
;
Dändliker, R.
Optics Letters. 21 (1996) 7 - p. 531 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
13
Microlens lithography: A new approach for large display fab..:
Völkel, R.
;
Herzig, H.P.
;
Nussbaum, Ph.
...
Microelectronic Engineering. 30 (1996) 1-4 - p. 107-110 , 1996
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
14
Absolute distance measurement with synchronously sampled wh..:
Schnell, U
;
Zimmermann, E
;
Dandliker, R
Pure and Applied Optics: Journal of the European Optical Society Part A. 4 (1995) 5 - p. 643-651 , 1995
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
15
Non-conventional techniques for optical lithography:
Da¨ndliker, R.
;
Gray, S.
;
Clube, F.
..
Microelectronic Engineering. 27 (1995) 1-4 - p. 205-211 , 1995
Link:
https://doi.org/10.1016/..
1-15