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Derrier, N.
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Low-Noise Si/SiGe HBT for LEO Satellite User Terminals in K..:

, In: 2023 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS),
Gauthier, A. ; Brezza, E. ; Montagne, A.... - p. 187-190 , 2023
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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0.13 μm HR SiGe BiCMOS Technology exhibiting 169 fs Ron x C..:

, In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM),
Gianesello, F. ; Charbuillet, C. ; Derrier, N.... - p. 11.7.1-11.7.4 , 2022
Link: https://doi.org/10.1109/..
 
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