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Duzellier, S.
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1
Injection-Free and Cavity Free Parametric Sources for Futur..:
, In:
Space-based Lidar Remote Sensing Techniques and Emerging Technologies; Springer Aerospace Technology
,
Dherbecourt, Jean-Baptiste
;
Mølster, Kjell Martin
;
Zheng, Antoine
... - p. 363-371 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1007/..
?
2
Interaction mechanisms between Atomic Oxygen and materials:..:
Leveque, D
;
Duzellier, S
;
Vilaranda Fernandes, M
...
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 1287 (2023) 1 - p. 012010 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
3
Influence of LDD spacers on total ionizing dose response of..:
Cussac, G.
;
Nuns, T.
;
Ducret, S.
..
Microelectronics Reliability. 135 (2022) - p. 114603 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
4
Space debris generation in GEO: Space materials testing and..:
Duzellier, S.
;
Gordo, P.
;
Melicio, R.
...
Acta Astronautica. 192 (2022) - p. 258-275 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Impact of 1 MeV proton irradiation on InGaAsN solar cells:
Levillayer, M
;
Duzellier, S
;
Massiot, I
...
Semiconductor Science and Technology. 37 (2022) 5 - p. 05LT02 , 2022
Link:
https://doi.org/10.1088/..
?
6
System for space materials evaluation in LEO environment:
Gordo, P.
;
Frederico, T.
;
Melicio, R.
..
Advances in Space Research. 66 (2020) 2 - p. 307-320 , 2020
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
7
Gamma irradiation-induced absorption in single-domain and p..:
Coetzee, R. S.
;
Duzellier, S.
;
Dherbecourt, J. B.
...
Optical Materials Express. 7 (2017) 11 - p. 4138 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1364/..
?
8
Spectrometers Results of Material Exposure and Degradation ..:
Rejsek-Riba, V.
;
Inguimbert, V.
;
Duzellier, S.
...
Journal of Spacecraft and Rockets. 48 (2011) 1 - p. 38-44 , 2011
Link:
https://doi.org/10.2514/..
?
9
Multi-scale modeling to investigate the single event effect..:
Hubert, G.
;
Bourdarie, S.
;
Artola, L.
..
Acta Astronautica. 69 (2011) 7-8 - p. 526-536 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
10
Electrical aging behavioral modeling for reliability analys..:
Bestory, C.
;
Marc, F.
;
Duzellier, S.
.
Microelectronics Reliability. 49 (2009) 9-11 - p. 946-951 , 2009
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
11
Application of laser testing in study of SEE mechanisms in ..:
Duzellier, S.
;
Falguere, D.
;
Guibert, L.
...
IEEE Transactions on Nuclear Science. 47 (2000) 6 - p. 2392-2399 , 2000
Link:
https://doi.org/10.1109/..
?
12
Développement de sous-cellules pin InGaAsN à 1 eV pour inté..:
Levillayer, Maxime
;
Almuneau, Guilhem
;
Massiot, Inès
...
hal-02382557. , 2019
Link:
https://hal.science/hal-..
?
13
Développement de sous-cellules pin InGaAsN à 1 eV pour inté..:
Levillayer, Maxime
;
Almuneau, Guilhem
;
Massiot, Inès
...
hal-02382557. , 2019
Link:
https://hal.science/hal-..
?
14
Développement de sous-cellules pin InGaAsN à 1 eV pour inté..:
Levillayer, Maxime
;
Almuneau, Guilhem
;
Massiot, Inès
...
hal-02382557. , 2019
Link:
https://hal.science/hal-..
?
15
Développement de sous-cellules pin InGaAsN à 1 eV pour inté..:
Levillayer, Maxime
;
Almuneau, Guilhem
;
Massiot, Inès
...
hal-02382557. , 2019
Link:
https://hal.science/hal-..
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