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Fohn, Corinna
2
Ergebnisse:
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Sortierung: Jahr
?
1
Voltage ramp stress based lifetime-prediction model of adva..:
Fohn, Corinna
;
Chery, Emmanuel
;
Croes, Kristof
..
Solid-State Electronics. 213 (2024) - p. 108864 , 2024
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
2
Reliability Challenges in Advanced 3D Technologies: The Cas..:
Chery, Emmanuel
;
Fohn, Corinna
;
Messemaeker, Joke De
.
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 23 (2023) 4 - p. 615-622 , 2023
Link:
https://doi.org/10.1109/..
1-2
