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Garros, Xavier
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1
In Depth Parasitic Capacitance Analysis on GaN-HEMTs with R..:
Kammeugne, Romeo Kom
;
Leroux, Charles
;
Frutuoso, Tadeu Mota
...
Journal of Electronics and Electrical Engineering. , 2022
Link:
https://doi.org/10.37256..
?
2
Characterization and modeling of dynamic variability induce..:
Garros, Xavier
;
Laurent, Antoine
;
Subirats, Alexandre
...
Microelectronics Reliability. 80 (2018) - p. 100-108 , 2018
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
3
(Invited) Dipoles in Gate-Stack/FDSOI Structure:
Reimbold, Gilles
;
Leroux, Charles
;
Suarez Segovia, Carlos
...
ECS Transactions. 80 (2017) 1 - p. 237-245 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
4
Impact of gate impedance on dielectric breakdown evaluation..:
Diab, Amer
;
Garros, Xavier
;
Rafik, Mustapha
...
Microelectronic Engineering. 178 (2017) - p. 21-25 , 2017
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
5
Influence of a-Si:H/ITO Interface Properties on Performance..:
Lachaume, Raphaël
;
Favre, Wilfried
;
Scheiblin, Pascal
...
Energy Procedia. 38 (2013) - p. 770-776 , 2013
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
6
Recent Findings in Electrical Behavior of CMOS High-K Diele..:
Ghibaudo, Gerard
;
Coignus, Jean
;
Charbonnier, Mathieu
...
ECS Transactions. 35 (2011) 4 - p. 773-804 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
7
VT Stability Of High-K/Metal Gate Stacks with Device Scalin..:
Garros, Xavier
;
Brunet, Laurent
;
Cassé, Mikael
...
ECS Transactions. 35 (2011) 4 - p. 515-530 , 2011
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
8
Impact of the Metal Gate on Carrier Transport in HK/MG Tran..:
Cassé, Mikaël
;
Garros, Xavier
;
Brunet, Laurent
.
ECS Transactions. 28 (2010) 1 - p. 165-176 , 2010
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
9
Universal Correlation Between Mobility and NBTI on Advanced..:
Reimbold, Gilles
;
Garros, Xavier
;
Casse, Mikael
...
ECS Transactions. 16 (2008) 5 - p. 41-53 , 2008
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
10
Crystalline Structure of HfZrO Thin Films and ZrO2 / HfO2 b..:
Lhostis, Sandrine
;
Gaumer, Clement
;
Bonafos, Caroline
...
ECS Transactions. 13 (2008) 1 - p. 101-109 , 2008
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
11
Investigation of hafnium-aluminate alloys in view of integr..:
Molas, Gabriel
;
Bocquet, Marc
;
Buckley, Julien
...
Solid-State Electronics. 51 (2007) 11-12 - p. 1540-1546 , 2007
Link:
https://doi.org/10.1016/..
?
12
Interface States in Hf-Based Stacks and their Impact on the..:
Garros, Xavier
;
Reimbold, Gilles
;
Martin, Francois
.
ECS Transactions. 3 (2006) 3 - p. 81-95 , 2006
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
13
An Efficient Model for Accurate Capacitance-Voltage Charact..:
Garros, Xavier
;
Leroux, Charles
;
Autran, Jean-Luc
Electrochemical and Solid-State Letters. 5 (2002) 3 - p. F4 , 2002
Link:
https://doi.org/10.1149/..
?
14
Frequency characterization and modeling of interface traps ..:
Masson, Pascal
;
Autran, Jean-Luc
;
Houssa, Michel
..
Applied Physics Letters. 81 (2002) 18 - p. 3392-3394 , 2002
Link:
https://doi.org/10.1063/..
?
15
Ultra-fast CV methods (< 10µs) for interface trap spectrosc..:
Mota Frutuoso, Tadeu
;
Garros, Xavier
;
Lugo-Alvarez, José
...
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/IRPS48227.2022.9764550. , 2022
Link:
https://hal.science/hal-..
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